5 июня в Москве редакция журнала «Электронные компоненты» организует II Всероссийскую конференцию «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Многие выступления на конференции посвящены интересным нестандартным решениям компаний, производящих электронику.
Участники конференции: разработчики и производители электронной аппаратуры, тест-инженеры, проектировщики, производители и поставщики тестового и испытательного оборудования.
Всего ожидается около 150 специалистов.
Предварительная программа
- Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла. Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.
- Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании, представитель ЗАО «Остек-Электро»
- Механические испытания, в том числе динамические.
- Климатические испытания.
- Испытания на надежность.
- Испытания на электробезопасность
- Испытания на электромагнитную совместимость.
- Функциональные тесты и испытания.
- Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля, особенности проектирования спецоснастки для тестирования серийно выпускаемого изделия, представитель ЗАО «Остек-Электро»
- Тестирование моточных изделий и электрических машин, представитель ЗАО «Остек-Электро»
- Современные автоматы для внутрисхемного тестирования, представитель ЗАО «Остек-Электро»
- Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники, представитель ОАО «Субмикрон»
- Электроконтроль
- JTAG-тестирование на уровне многоплатных систем: практический опыт. Ли Виктор, НПП НТТ
- Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования. Алексей Иванов, JTAG Technologies
- Программно-аппаратные средства проведения испытаний
- Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies
- Электроконтроль
Регистрация обязательная!
Подробную информацию об условиях участия в конференции, возможности выступления с докладом, бронирования гостиницы Вы можете получить в оргкомитете конференции:
Тел.: (495) 741-77-01, доб 2339, Контактное лицо – Гуля Фаттахова
Будем рады видеть Вас на конференции!
Источник: http://www.russianelectronics.ru/leader-r/news/partners-news/doc/67790/
Новости компании
Председатель ТК 165 - спикер Национального промышленного форума
15 декабря 2025 г.
По приглашению организаторов в Национальном промышленном форуме в треке «Радиоэлектроника» в качестве спикера принял участие Шалумов Александр Славович
Вышел 6-й номер российского журнала «САПР электроники»
1 декабря 2025 г.
17 ноября 2025 вышел № 1 (6) 2025 российского научно-практического журнала «САПР электроники» (регистрационный номер: серия Эл № ФС77-84458; ISSN 2949-4966) в форме электронного периодического издания технического комитета по стандартизации ТК 165 «САПР электроники».
Председатель ТК 165 - спикер Научно-образовательной конференции по стандартизации НФСТ 2025
6 октября 2025 г.
По приглашению оргкомитета НФСТ в конференции в качестве спикера принял участие Председатель технического комитета по стандартизации ТК 165, Генеральный директор ООО «НИИ «АСОНИКА», академик Шалумов Александр Славович
Все новости компании
